用于镀层厚度测量和材料分析的X-射线荧光测量系统，甚至可在较大的距离测量（DCM功能，范围0-80 mm）工作

12纯元素片： (Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr)

固定光圈和固定滤光镜

用于1mm起大小的测量点

底部C型开槽的大容量测量舱

可编程的台式设备，用于自动测量

标准X射线管，比例计数器

XDL镀层厚度测量仪典型应用领域

测量大规模生产的电镀零件

防腐镀层和装饰性镀层，如镍/铜上的铬。铬层测厚、铜厚测量

电镀工业中电镀液的分析

黄金、珠宝和钟表工业